类型 组合式粗糙度仪 品牌 三丰mitutoyo 型号 SV-C3100 / SV-C4100 Formtracer (表面粗糙度 / 轮廓测量装置) SV-C3100 / SV-C4100 特点 • 大幅提高的驱动速度(X 轴: 80 mm/s, Z2 轴立柱: 20mm/s) 进一步减少了总的测量时间。 • 为了更长时间地保持直线度，三丰公司采用了抗老化且极耐磨的非常坚固的陶瓷导轨； • 驱动器 (X 轴) 和立柱 (Z2 轴) 均配备了高精度线形编码器 (其中Z2 轴上为ABS 型)。因此，在垂直方向对小孔连续自动测量、对较难定位部件的重复测量的重复精度得以提高。 基本技术参数: 基座尺寸 (W x H): 750 x 600mm 或 1000 x 450mm 基座材料: 花岗岩 重量 　主机: 140kg (S4), 150kg (H4), 220kg (W4) 140kg (S8), 150kg (H8), 220kg (W8) 　控制器: 14kg 　遥控箱: 0.9kg 电源: 100 – 240VAC ±10%, 50/60Hz 能耗: 400W (主机) 轮廓测量技术参数: X 轴 　测量范围: 100mm 或 200mm 　分辨率: 0.05µm 　检测方法: 反射型线性编码器 　驱动速度: 80mm/s、外加手动 　测量速度: 0.02 - 5mm/s 　移动方向: 向前／向后 　直线度: 0.8µm / 100mm, 2µm / 200mm * 以X 轴为水平方向上 　直线位移: ±(1+0.01L)µm (SV-C3100S4, H4, W4) 　精度 (20° C 时) ±(0.8+0.01L)µm (SV-C4100S4, H4, W4) ±(1+0.02L)µm (SV-C3100S8, H8, W8) ±(0.8+0.02L)µm (SV-C4100S8, H8, W8) * L 为驱动长度(mm) 　倾角范围: ±45° Z2 轴 (立柱) 　垂直移动: 300mm 或 500mm 　分辨率: 1µm 　检测方法: ABSOLUTE 线性编码器 　驱动速度: 0 - 20mm/s、外加手动 Z1 轴 (检测器) 　测量范围: ±25mm 　分辨率: 0.2µm (SV-C3100), 　 0.05µm (SV-C4100) 　检测方法: 线性编码器 (SV-C3100), 　 激光全息测微计 (SV-C4100) 　直线位移: ±(2+I4HI/100)µm (SV-C3100) 精度 (20° C 时) ±(0.8+I0.5HI/25)µm (SV-C4100) *H: 基于水平位置的测量高度(mm) 　测针上／下运作: 弧形移动 　测针方向: 向上／向下 　测力: 30mN 　跟踪角度: 向上: 77° , 向下: 87° (使用配置的标准测头，依表面粗 糙度而定) 测针针尖 尖端半径: 25µm、硬质合金尖端 表面粗糙度测量的技术参数： X1 轴 　测量范围: 100mm 或 200mm 　分辨率: 0.05µm 　检测方法: 线性编码器 　驱动速度: 80mm/s 　移动方向: 向后 　直线度: (0.05+1.5L/1000)µm (S4, H4, W4 型) 0.5µm/200mm (S8, H8, W8 型) Z2 轴 (立柱) 　垂直移动: 300mm 或 500mm 　分辨率: 1µm 　检测方法: ABSOLUTE 线性编码器 　驱动速度: 0 - 20mm/s、外加手动 检测器 　范围／分辨率: 800µm / 0.01µm, 80µm / 0.001µm, 8µm / 0.0001µm (2400µm 使用测头选件) 　检测方法: 无轨／有轨测量 　测力: 4mN 或 0.75mN (低测力型) 　测针针尖: 金刚石、90º / 5µmR (60º / 2µmR: 低测力型) 　导头曲率半径: 40mm 　检测方法: 差动电感式